Journée Test et Mesure
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Témoignages
Voici quelques extraits des enquêtes réalisées dans le cadre de nos Journées Test & Mesure
[Visiteur] Visiteur Paris 2012 : Nombreux exposants disponibles pour les visiteurs


[Auditeur] Présentation intéressante et claire. Interlocuteurs disponibles pour les questions. (auditeur conférence maintenance)


[Auditeur] Conférences intéressantes, pas trop de monde et très bien organisées !


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Bilan des Journées Test & Mesure »

Album photo du SIMTEC | Assemblee 2006 | A. Pyard - TEKTRONIX et F. Drappier - NATIONAL I.

A. Pyard - TEKTRONIX et F. Drappier - NATIONAL I.


Camera Maker:   Canon
Camera Model:   Canon EOS 20D
Shutter Speed:   1/80 sec
Aperture:   f/7.1
Focal Length:   22 mm
ISO Sensitivity:   2147484448
Time Taken:   2006:07:04 19:50:38
Exposure Compensation:   -0.67 EV
Metering Mode:   Unknown: 536870917
Flash Fired:   Compulsory Flash

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