Album photo du SIMTEC | Assemblee 2008 | AG vue de la Tour Eiffel 1

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Paris - 15/03/2012
Grenoble - 05/04/2012
Ecole Polytechnique - 20/09/2012
Bordeaux - 11/10/2012
Aubagne - 20/11/2012
Strasbourg - 11/12/2012

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Journées Test et Mesure »
Dossier d’inscription exposant, tarifs et conditions »

Témoignages
Voici quelques extraits des enquêtes réalisées dans le cadre de nos Journées Test & Mesure

[Visiteur] Visiteurs Grenoble 2012 : salon intÃ©ressant, dÃ©couverte de nouveaux fournisseurs

[Auditeur] Bonne explication sur la diffÃ©rence d'un constat de vÃ©rification et un certificat d'Ã©talonnage (confÃ©rence maintenance)

[Exposant] Organisation parfaite, visitorat de qualitÃ©

Tous les témoignages »

Bilan des Journées Test & Mesure »

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Album photo du SIMTEC | Assemblee 2008 | AG vue de la Tour Eiffel 1

Image Info

Camera Maker:	Sony
Camera Model:	DSC-W110
Shutter Speed:	1/200 sec
Aperture:	f/5.8
Focal Length:	21.4 mm
ISO Sensitivity:	400
Time Taken:	2008:07:02 17:41:13
Exposure Compensation:	0 EV
Metering Mode:	Multi-Segment
Flash Fired:	Flash, Auto-Mode, Return light not detected

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