Journée Test et Mesure
Calendrier
Organisé par FM Promotion

Journées Test et Mesure »
Dossier d’inscription exposant, tarifs et conditions »

Témoignages
Voici quelques extraits des enquêtes réalisées dans le cadre de nos Journées Test & Mesure
[Visiteur] Visiteur Toulouse 2012 : Lieu de rencontre privilégié !


[Visiteur] Visiteur Grenoble 2012 : Excellente journée, bonne offre


[Exposant] Exposant à Polytechnique 2010 : Un lieu prestigieux, attractif et bien situé. Bon visitorat arrivé de bonne heure et motivé...


Tous les témoignages »

Bilan des Journées Test & Mesure »

Album photo du SIMTEC | Assemblee 2009 | BNeel_JLDuquesne_APerreur_JCPrunet

BNeel_JLDuquesne_APerreur_JCPrunet


Camera Maker:   Sony
Camera Model:   DSC-W110
Shutter Speed:   1/40 sec
Aperture:   f/2.8
Focal Length:   5.35 mm
ISO Sensitivity:   400
Time Taken:   2009:06:25 21:27:49
Exposure Compensation:   0 EV
Metering Mode:   Multi-Segment
Flash Fired:   Flash, Auto-Mode, Return light detected

RSS RSS Feed | Archive View | Powered by zenphoto
Actualités
Nouveautés

Toutes les nouveautés >>

Communiqués de presse

Votre email:
Mot de passe:


Mot de passe perdu   Devenir adhérent

Fermer