Album photo du SIMTEC | AssemblÃ©e 2010 | M.Piaud_ChauvinArnoux-et-MM.Laury-et-Crochetet

Calendrier

Toulouse - 17/01/2012
Angers - 01/02/2012
Paris - 15/03/2012
Grenoble - 05/04/2012
Ecole Polytechnique - 20/09/2012
Bordeaux - 11/10/2012
Aubagne - 20/11/2012
Strasbourg - 11/12/2012

Organisé par

Journées Test et Mesure »
Dossier d’inscription exposant, tarifs et conditions »

Témoignages
Voici quelques extraits des enquêtes réalisées dans le cadre de nos Journées Test & Mesure

[Auditeur] Auditeur de la confÃ©rence Test, Toulouse 2010 : PrÃ©sentation dynamique, claire et prÃ©cise

[Exposant] Exposant Paris 2012 : malgrÃ© la logistique un peu compliquÃ© sur une ville comme Paris, le nombre de visiteurs mais surtout la qualitÃ© des contacts permettent de rentabiliser cette journÃ©e

[Visiteur] Visiteur Paris 2012 : exposition avec beaucoup d'animation sur les stands

Tous les témoignages »

Bilan des Journées Test & Mesure »

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Album photo du SIMTEC | AssemblÃ©e 2010 | M.Piaud_ChauvinArnoux-et-MM.Laury-et-Crochetet_Lecroy

Image Info

Camera Maker:	Sony
Camera Model:	DSC-W110
Shutter Speed:	1/40 sec
Aperture:	f/2.8
Focal Length:	5.35 mm
ISO Sensitivity:	400
Time Taken:	2010:06:22 22:00:00
Exposure Compensation:	0 EV
Metering Mode:	Multi-Segment
Flash Fired:	Red Eye, Compulsory Flash, Return light detected

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