Test
Comité test
Présidé par Didier L'HERMITTE
CASSIDIAN TEST & SERVICES
Le comité Test rassemble les fournisseurs d'équipements de test de cartes, composants et sous-ensembles électroniques. Ces équipements sont mis en oeuvre sur les lignes de production des appareils et systèmes électroniques. Il fédère les acteurs du marché à travers leur participation commune aux salons et conférences.
Le comité organise à l'occasion de chaque Journées Test & Mesure des conférences d'information, et également à l'occasion du CIEN sous forme de conférences et d'animation sur le thème.
Thèmes des sessions 2011 :
- "Le test de cartes électroniques face aux principales règles et tendances pour la testabilité"
- "Le JTAG dans les différents environnements de test"
- "Les avantages et applications de la technologie FPGA dans l'instrumentation"
- " Pourquoi choisir de l'instrumentation modulaire pour les RF et Radiofréquences ?
Vous êtes universitaires, grandes entreprises…
Si vous souhaitez que les membres du comité test viennent dans vos locaux afin de vous présentez notre conférence : contactez-nous !!
Téléchargez l'article "Un seul format modulaire ne peut pas répondre à tous les scénarios de test"
Parution septembre 2010 - revue Mesures
Une table ronde a été organisée courant juin 2008 avec la revue Mesures
Parution de la 1ère partie - septembre 2008: >>> téléchargez l'article
Parution de la 2ème partie - novembre 2008 : >>> téléchargez l'article
Source Revue Mesures : http://www.mesures.com/
LES ARCHIVES DES CONFERENCES
CONFERENCES 2010 :
- "Stratégie de test de cartes en faible et moyen volume"
- "Mon prochain testeur fonctionnel modulaire"
- "De la conception au test, les outils logiciels"
CONFERENCE 2009 - Du composant au système : tous les moyens de test fonctionnel
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CONFERENCE 2008 - Les techniques et moyens de test : leurs évolutions, leur efficacité, leur complémentarité
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CONFERENCE 2007 - Les nouveaux défis de la fabrication de cartes électroniques :
le test doit s'adapter
Les évolutions technologiques & les aspects économiques
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CONFERENCE 2006 - Le sans-plomb : saut technologique. La maîtrise passe par le test
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CONFERENCE 2005 - Test de cartes ! Passons de la théorie à la pratique
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CONFERENCE 2004 - Tester ou ne pas tester ?
Les différences de test, les vrais bénéfices du test
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Téléchargez les e-newsletters du comité test, destinées principalement aux auditeurs des conférences :
- Février 2007
- Mars 2007
- Mai 2007
- Septembre 2007
- Novembre 2007
