Test
Comité test
Présidé par Patrick LEGENRE
ACCELONIX
Le comité Test rassemble les fournisseurs d'équipements de test de cartes, composants et sous-ensembles électroniques. Ces équipements sont mis en oeuvre sur les lignes de production des appareils et systèmes électroniques. Il fédère les acteurs du marché à travers leur participation commune aux salons et conférences.
Le comité organise à l'occasion de chaque Journées Test & Mesure des conférences d'information.
Thèmes des sessions 2010 :
- "Stratégie de test de cartes en faible et moyen volume"
- "Les interfaces de test"
- "Mon prochain testeur fonctionnel modulaire"
- "De la conception au test, les outils logiciels"
Les présentations seront disponibles au téléchargement courant mars 2010
Vous êtes universitaires, grandes entreprises…
Si vous souhaitez que les membres du comité test viennent dans vos locaux afin de vous présentez notre conférence : contactez-nous !!
Une table ronde a été organisée courant juin 2008 avec la revue Mesures
Parution de la 1ère partie - septembre 2008: >>> téléchargez l'article
Parution de la 2ème partie - novembre 2008 : >>> téléchargez l'article
Source Revue Mesures : http://www.mesures.com/
LES ARCHIVES DES CONFERENCES
CONFERENCE 2009 - Du composant au système : tous les moyens de test fonctionnel
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CONFERENCE 2008 - Les techniques et moyens de test : leurs évolutions, leur efficacité, leur complémentarité
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CONFERENCE 2007 - Les nouveaux défis de la fabrication de cartes électroniques :
le test doit s'adapter
Les évolutions technologiques & les aspects économiques
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CONFERENCE 2006 - Le sans-plomb : saut technologique. La maîtrise passe par le test
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CONFERENCE 2005 - Test de cartes ! Passons de la théorie à la pratique
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CONFERENCE 2004 - Tester ou ne pas tester ?
Les différences de test, les vrais bénéfices du test
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Téléchargez les e-newsletters du comité test, destinées principalement aux auditeurs des conférences :
- Février 2007
- Mars 2007
- Mai 2007
- Septembre 2007
- Novembre 2007
