Journée Test et Mesure
Calendrier
Témoignages
Voici quelques extraits des enquêtes réalisées dans le cadre de nos Journées Test & Mesure
[Exposant] Exposant Angers 2011 : Très bon salon !


[Exposant] Exposant Paris 2012 : Bon salon avec de bons contacts !


[Exposant] Exposant Toulouse 2011 : Une bonne journée, de bons visiteurs


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Bilan des Journées Test & Mesure »

Test

COMITE TEST

Présidé par Didier L'HERMITTE
SPHEREA TEST & SERVICES


Le Comité Test rassemble les fournisseurs d'équipements de test de cartes, composants et sous-ensembles électroniques. Ces équipements sont mis en oeuvre sur les lignes de production des appareils et systèmes électroniques. Il fédère les acteurs du marché à travers leur participation commune aux salons et conférences.


Le Comité organise à l'occasion de chaque Journées Test & Mesure des conférences et également à l'occasion du salon Enova Paris.

 

Thèmes des sessions 2014-2015

-"Test des cartes : le JTAG prend son envol"

- "Acquisition de données : bien comprendre pour bien choisir"

- Transmission de signaux : interfaçage des signaux numériques rapides dans le test fonctionnel

- Les défis à relever pour le Test RF des objets connectés M2M

 

Thèmes des sessions 2013
- "Pourquoi utiliser le FPGA dans l'instrumentation modulaire ?"
- " Du test en production au test en réparation"

 

Thèmes des sessions 2012
- "Intégration d'un test fonctionnel"
- "La RF se complique... Les moyens de test se simplifient !"
- "Les avantages et applications de la technologie FPGA dans l'instrumentation"

 

Thèmes des sessions 2011 :

- "Le test de cartes électroniques face aux principales règles et tendances pour la testabilité"
- "Le JTAG dans les différents environnements de test"
- "Les avantages et applications de la technologie FPGA dans l'instrumentation"
- " Pourquoi choisir de l'instrumentation modulaire pour les RF et Radiofréquences ?

 

 

 

Téléchargez l'article "Un seul format modulaire ne peut pas répondre à tous les scénarios de test"

Parution septembre 2010 - revue Mesures

 

Une table ronde a été organisée courant juin 2008 avec la revue Mesures
Parution de la 1ère partie - septembre 2008: >>> téléchargez l'article
Parution de la 2ème partie - novembre 2008 : >>> téléchargez l'article

Source Revue Mesures : http://www.mesures.com/

 

LES ARCHIVES DES CONFERENCES

CONFERENCES 2010 :

- "Stratégie de test de cartes en faible et moyen volume"

- "Les interfaces de test"

- "Mon prochain testeur fonctionnel modulaire"

- "De la conception au test, les outils logiciels"

 

CONFERENCE 2009 - Du composant au système : tous les moyens de test fonctionnel
Téléchargez la présentation

CONFERENCE 2008 - Les techniques et moyens de test : leurs évolutions, leur efficacité, leur complémentarité
Téléchargez la présentation

CONFERENCE 2007 - Les nouveaux défis de la fabrication de cartes électroniques :
le test doit s'adapter
Les évolutions technologiques & les aspects économiques
Téléchargez la présentation

CONFERENCE 2006 - Le sans-plomb : saut technologique. La maîtrise passe par le test
Téléchargez la présentation

CONFERENCE 2005 - Test de cartes ! Passons de la théorie à la pratique
Téléchargez la présentation


CONFERENCE 2004 - Tester ou ne pas tester ?
Les différences de test, les vrais bénéfices du test
Téléchargez la présentation

 

Téléchargez les e-newsletters du comité test, destinées principalement aux auditeurs des conférences :
- Février 2007
- Mars 2007
- Mai 2007
- Septembre 2007
- Novembre 2007

 

Les adhérents du COMITE TEST
  • ACCELONIX
  • ACQUISYS
  • ANTYCIP - ADAS - MIDI INGENIERIE GROUPE NEXEYA
  • KEYSIGHT TECHNOLOGIES
  • NATIONAL INSTRUMENTS
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  • TECHNICOME.COM
  • TEMENTO SYSTEMS

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