Les communiqués de presse

Les communiqués de presse des adhérents du SIMTEC

[fr] RS annonce la nomination de Stéphane Maffli au poste de Country Manager France

Publié le 02-09-2010

[fr] Pour la 4ème année consécutive, Rohde & Schwarz France organise ses Rencontres Test & Mesure, le 22 septembre à Meudon-la-Forêt (92)

Publié le 02-09-2010

[fr] Prochaine Journée Test et & Mesure à St Malo le 15 Septembre

Publié le 27-08-2010

[fr] LMS vend Noesis et la plateforme OPTIMUS à la société japonaise Cybernet

Publié le 23-08-2010

[fr] LMS International acquiert Emmeskay

Publié le 23-08-2010

[en] Agilent Technologies Introduces Industry’s First GDDR5 Compliance Test Tools for Oscilloscopes

Publié le 11-08-2010

[fr] Pour la 4ème année consécutive, Rohde & Schwarz France organise ses Rencontres Test & Mesure, le 22 septembre à Meudon-la-Forêt (92)

Publié le 09-08-2010

[en] Agilent Technologies Announces 30 MHz Function/Arbitrary Waveform Generators with Unparalleled Signal Accuracy

Publié le 03-08-2010

[en] Agilent Technologies Announces Handheld Spectrum Analyser, Makes Infield Measurements Easier, Faster, More Precise

Publié le 02-08-2010

[fr] JDSU étend sa gamme des testeurs 10 Gigabit-Ethernet aux fabricants d’équipements de réseaux de centres de données de nouvelle génération

Publié le 26-07-2010

[en] Agilent Technologies’ Atomic Force Microscope Chosen by Imperial College of London

Publié le 26-07-2010

[en] Agilent Technologies’ Infiniium 90000 X-Series Oscilloscope Wins Electron d’Or 2010 Award for Innovation

Publié le 20-07-2010

[en] Agilent Technologies Introduces Industry’s First Pre compliance Test Solution to Reduce Test Margins, Ensure Devices Meet Regulatory Limits

Publié le 16-07-2010

[fr] National Instruments enrichit sa plate-forme NI-XNET pour réseaux embarqués avec le support du bus de communication LIN

Publié le 13-07-2010

[fr] National Instruments annonce de nouvelles interfaces pour connecter NI LabVIEW aux réseaux industriels

Publié le 13-07-2010