Les communiqués de presse

Les communiqués de presse des adhérents du SIMTEC

[en] Agilent Technologies Demonstrates Unique 40/100G Ethernet Test Solution at ECOC 2009

Publié le 22-09-2009

[en] Agilent Technologies Unveils Newest Solutions for Microwave, RF, Wireless, Radar Test at 2009 European Microwave Conference

Publié le 15-09-2009

[fr] GEOTEST-MTS - Nouvelle carte PXI d’entrées-sorties dynamiques numériques rapides avec comparaison temps réel

Publié le 09-09-2009

[fr] Pour la 3ème année consécutive, Rohde & Schwarz France organise ses Rencontres Test & Mesure, le 23 septembre à Meudon-la-Forêt (92)

Publié le 30-08-2009

[en] Rohde & Schwarz adds DME options to test and measurement equipment portfolio for aeronautical radio navigation services

Publié le 30-08-2009

[fr] Prochaine Journée Test & Mesure à Bordeaux le 17 septtembre 2009

Publié le 30-08-2009

[fr] National Instruments et Tektronix développent ensemble le numériseur PXI le plus rapide du marché

Publié le 12-08-2009

[fr] NI LabVIEW 2009 intègre de nouvelles technologies pour cibler les applications émergentes

Publié le 12-08-2009

[fr] NI France inaugure, avec l’École Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, un nouveau type de partenariat pour l’enseignement

Publié le 12-08-2009

[en] Agilent Technologies Introduces Industry’s First One-Box-Tester for 1xEV-DO eHRPD Protocol Stack

Publié le 03-08-2009

[en] Agilent Technologies to Acquire Varian, Inc. for $1.5 Billion

Publié le 28-07-2009

[en] R&S SMA100A signal generator: one-box solution for configuring and analyzing complex pulse trains

Publié le 28-07-2009

[en] New diode power sensor from Rohde & Schwarz makes power measurements up to 33 GHz faster and more precise

Publié le 27-07-2009

[fr] NI annonce un nouveau boîtier USB et une suite de capteurs pour les applications acoustiques et de vibration

Publié le 12-07-2009

[fr] NI annonce un nouveau châssis large bande et un nouvel instrument numérique PXI Express 200 MHz

Publié le 12-07-2009