Les communiqués de presse

Les communiqués de presse des adhérents du SIMTEC

[fr] National Instruments propose de nouveaux modules PXI pour la caractérisation et le test des semi-conducteurs

Publié le 11-10-2011

[fr] National Instruments étoffe sa famille de caméras intelligentes de sept nouveaux modèles

Publié le 11-10-2011

[fr] GEOTEST- Nouveau testeur PXI, TS-900 pour les tests de composants (SoC , SiP, composants mixtes …)

Publié le 10-10-2011

[fr] Trescal renforce ses capacités d’étalonnage dans le domaine des hyperfréquences

Publié le 06-10-2011

[fr] LDS Test & Measurement Ltd devient Bruel & Kjaer Vibration Test System

Publié le 06-10-2011

[fr] TOUJOURS PRETS – MEME DANS LES CONDITIONS DIFFICILES

Publié le 05-10-2011

[en] Agilent Technologies to Demonstrate Newest Test Solutions for Microwave, RF, Wireless, Radar at European Microwave Week

Publié le 28-09-2011

[en] Tektronix Launches CALWEB(r) Version 5.1.5

Publié le 27-09-2011

[en] Tektronix Unveils Industry's Most Cost-Effective Solution for MIPI(r) Alliance M-PHYSM Testing

Publié le 27-09-2011

[en] Agilent Technologies’ PXA Signal Analyzer Now Enables Wideband Measurement with up to 900 MHz of Bandwidth

Publié le 21-09-2011

[en] Agilent Technologies Introduces Tunable Laser Module and Measurement Engine for Fast Spectral Loss Test

Publié le 20-09-2011

[en] Agilent Technologies Announces Industry’s First 160-MHz Signal Analyzer for Wide Bandwidth Signal Analysis

Publié le 19-09-2011

[fr] National Instruments annonce le premier CompactRIO multicœur et des cartes NI Single-Board RIO

Publié le 19-09-2011

[fr] National Instruments étend à 14 GHz les performances du PXI en test RF

Publié le 19-09-2011

[fr] National Instruments enrichit la plate-forme NI CompactDAQ de nouveaux châssis à un seul emplacement

Publié le 19-09-2011