National Instruments améliore ses instruments modulaires RF 6,6 GHz au format PXI Express
Communiqué de presse de NATIONAL INSTRUMENTS 
National Instruments annonce deux nouveaux instruments modulaires RF au format PXI Express pour le test automatisé de matériels de communication sans fil. L’analyseur de signaux vectoriels (VSA) 6,6 GHz NI PXIe-5663E et le générateur de signaux vectoriels (VSG) 6,6 GHz NI PXIe-5673E améliorent considérablement les temps de test d’une grande variété de
matériels utilisant les derniers standards tels que WLAN (wireless
local area network), WiMAX et GSM/EDGE/WCDMA. Le nouveau mode RF List
de ces instruments garantit un séquencement de fréquences et de
puissance déterministe qui aide les ingénieurs à modifier la
configuration RF plus rapidement au cours d’un test. De plus, le
nouveau mode Wide Loop Bandwidth (élargissement de la bande passante du
filtre de rétro-action de la boucle à verrouillage de phase) améliore
encore la vitesse des mesures en réduisant les temps d’établissement de
l’oscillateur local à 300 microsecondes, voire moins.
“Ces nouveaux instruments RF illustrent notre volonté d’aider les
ingénieurs à économiser de l’argent en réduisant les temps de test,”
souligne Eric Starkloff, vice-président marketing pour les produits de
test chez National Instruments. “Les performances accrues de nos
instruments RF 6,6 GHz répondent directement aux besoins d’effectuer
des tests RF automatisés plus rapidement qu’avec les solutions
traditionnelles dans les applications de production en volume.”
En utilisant le mode RF List, les ingénieurs peuvent configurer
les nouveaux VSG et VSA PXI Express 6,6 GHz de NI de façon à rapidement
passer d’un paramètre RF à un autre au travers d’une liste
préprogrammée, comme le niveau de puissance et la fréquence, et cela à
des intervalles de temps déterministes. Le mode RF List facilite
également les mesures de puissance plus précises en aidant les
ingénieurs à optimiser le niveau de référence des entrées du VSA NI
PXIe-5663E.
En mode Wide Loop Bandwidth, les nouveaux VSG et VSA bénéficient
d’un temps détablissement à une fréquence centrale notablement plus
court que bon nombre d’instruments traditionnels RF. Ils atteignent en
effet des temps d’établissement respectivement de 300 et 400
microsecondes pour des fréquences comprises entre 800 MHz et 1,950 MHz.
Avec des temps d’établissement plus rapides, les ingénieurs peuvent
réduire de manière significative le temps de mesure global au sein des
applications de test RF automatisé.
La suite d’instrumentation RF 6,6 GHz en PXI Express s’appuie sur
la plate-forme de test NI définie par logiciel, qui intègre des
technologies informatiques standards, telles que les processeurs
multicœurs et le bus PCI Express. Définis par logiciel, les instruments
modulaires RF de NI permettent aux ingénieurs d’utiliser le logiciel de
conception graphique de systèmes NI LabVIEW pour définir les algorithmes de mesure, et de tester ainsi toute une
variété de matériels sans fil cinq à dix fois plus vite qu’avec
l’instrumentation RF traditionnelle.
Pour de plus amples informations sur les instruments modulaires PXI 6,6 GHz, les lecteurs peuvent se rendre sur ni.com/rf/platform.
NATIONAL INSTRUMENTS
Publié le 04-02-2010
