NI annonce un nouveau châssis large bande et un nouvel instrument numérique PXI Express 200 MHz
Communiqué de presse de NATIONAL INSTRUMENTS 
Les nouveaux générateur/analyseurs numériques 100 et 200 MHz ainsi que le châssis huit emplacements optimisent les applications de test de semiconducteurs et multimédia
Communiqué de presse – 23 juin 2009 – National Instruments annonce deux nouveaux instruments numériques de 32 voies au format PXI Express,
ainsi qu’un nouveau châssis 3U PXI Express large bande à huit
emplacements pour les applications avancées de test automatisé. Les
générateur/analyseurs NI PXIe-6544/45 de signaux numériques à tension variable optimisent les applications de
test en supportant des vitesses d’horloge jusqu’à 100 et 200 MHz,
respectivement. Avec des vitesses de transfert en continu de 660 Mo/s,
le module NI PXIe-6545 est l’un des matériels de test numérique les
plus rapides du marché, en matière de transfert de données en continu.
Ces nouveaux instruments numériques permettent aux ingénieurs de test
de mener une analyse approfondie des semi-conducteurs haute vitesse et
des composants multimédia haute définition (HD) qui nécessitent des
transferts rapides de grandes quantités de données vers et en
provenance de la mémoire hôte. Le châssis NI PXIe-1082,
premier châssis PXI Express à huit emplacements 3U du marché capable
d’accueillir sept modules PXI Express, est idéal pour exploiter les
générateur/analyseurs PXIe-6544/45 avec une bande passante atteignant 1
Go/s par emplacement et 4 Go/s pour l’ensemble du système.
“Ces nouveaux instruments étendent les capacités de test numérique PXI
de National Instruments afin d’offrir les performances et la souplesse
nécessaires pour tester les semi-conducteurs plus rapides ainsi que les
composants multimédia qui requièrent des vitesses de transfert de
données élevées” souligne Eric Starkloff, Vice Président Marketing Test
chez National Instruments. “Ces produits PXI Express vont accentuer la
tendance selon laquelle l’utilisateur s’oriente de plus en plus vers
des solutions de test plus économiques, basées sur le standard ouvert
de l’instrumentation PXI "sur étagère", au lieu des solutions
propriétaires traditionnelles.”
Vu le fonctionnement avancé des modules NI PXIe-6544/45, les ingénieurs
peuvent désormais tester avec précision et automatiquement des circuits
plus rapides, comme des convertisseurs analogiques-numériques (C A/N),
des convertisseurs numériques-analogiques (C N/A), des mémoires, des
ASIC et des microcontrôleurs. Par exemple, tester un C N/A de 200
Méch./s nécessitait auparavant un générateur de pattern haute vitesse,
un oscilloscope et une alimentation. Avec le nouveau
générateur/analyseur NI PXIe-6545 et le châssis NI PXIe-1082, les
ingénieurs peuvent procéder à des tests de caractérisation et de
production en utilisant une instrumentation modulaire et compacte
définie de façon logicielle. Cette approche offre davantage de
souplesse en permettant aux ingénieurs de sélectionner par
programmation des tensions de 1,2, 1,5, 1,8, 2,5 ou 3,3 V; de
configurer séparément chacune des 32 voies en entrée et en sortie ; et
d’utiliser l’horloge embarquée haute résolution pour la sélection de
fréquences inférieures au hertz. Les capacités de débit de données des
nouveaux instruments numériques et du châssis PXI Express large bande
sont idéales pour tester un grand nombre de composants multimédia
également, comme des circuits utilisant des signaux HDTV jusqu'à 1080
pixels à 60 Hz, des écrans LCD, des matériels large bande RF et la
radio HD.
Les modules NI PXIe-6544/45 présentent des fonctionnalités avancées de
cadencement et de synchronisation, comme une horloge DDS (synthèse
numérique directe) embarquée qui offre une résolution inférieure au
hertz entre le continu et 200 MHz. Cela permet aux ingénieurs de
cadencer la génération et l’acquisition de données avec une résolution
plus élevée sans utiliser d’horloge externe, évitant ainsi le recours à
un matériel de cadencement haute résolution supplémentaire et à des
câbles de synchronisation externes. Le DDS aide aussi à gérer des
applications de test qui nécessitent des fréquences d'horloge
arbitraires. Les ingénieurs peuvent exporter l'horloge embarquée vers
d'autres instruments ou importer des horloges externes, via le fond de
panier du nouveau châssis NI PXIe-1082 ou via un connecteur SMB sur la
face-avant des générateur/analyseurs. Grâce à ces fonctionnalités, les
ingénieurs peuvent rapidement synchroniser les modules NI PXIe-6544/45
avec d’autres instruments analogiques ou numériques pour garantir un
maximum de corrélation des signaux générés et des mesures entre
différents matériels.
Le châssis 3U à huit emplacements NI PXIe-1082 présente des lignes PCI Express acheminées vers chaque emplacement. Il offre quatre emplacements
hybrides que les ingénieurs peuvent utiliser soit pour des modules PXI
Express soit pour les modules compatibles à emplacements hybrides PXI.
Conçu pour les systèmes haute performance, le châssis NI PXIe-1082
offre une gamme de températures d'exploitation de 0 et 50 degrés
Celsius ainsi que des fonctionnalités intégrées de contrôle du système,
dont la gestion d’alimentation, la surveillance de la température et le
contrôle du ventilateur.
Les lecteurs peuvent prendre connaissance des fiches techniques des
nouveaux générateur /analyseurs de signaux numériques NI PXIe-6544/45
et du châssis NI PXIe-1082 sur http://www.ni.com/pxi.
NATIONAL INSTRUMENTS
Publié le 12-07-2009
