National Instruments publie un rapport sur les perspectives du test automatisé en 2010

… qui présente, de façon approfondie, les innovations et méthodologies essentielles influençant le test et la mesure dans de nombreuses industries

Communiqué de presse – 13 avril 2010 – National Instruments annonce la parution d’un rapport sur les perspectives du test automatisé en 2010, qui présente les résultats des recherches de l’entreprise en matière d’innovations et de technologies autour des applications de test et mesure. Les données économiques et technologiques fournies dans ce document concernent un grand nombre d’industries comme les communications, l’aérospatiale et la défense, les semi-conducteurs, l’automobile et l’électronique. L’objectif de ce rapport est d’aider les ingénieurs et les dirigeants à y voir plus clair dans les tendances industrielles susceptibles d’impacter leurs entreprises.

La compréhension des tendances technologiques dont bénéficie National Instruments en interagissant avec des sociétés de nombreux secteurs différents, offre une position très avantageuse sur les orientations du marché du test et de la mesure. Ce rapport sur les perspectives du test automatisé en 2010 rassemble des données provenant de la recherche universitaire, de la veille économique, des enquêtes d’utilisateurs, des forums en ligne, des retours de clients et des informations issues de commerciaux de terrain. Avec ces données comme point de départ, ce rapport dresse un tableau de la prochaine génération des tendances et des méthodologies concernant les défis techniques et économiques en test et mesure.

Le rapport sur les perspectives du test automatisé en 2010 est divisé en cinq catégories : Stratégie commerciale, Architectures, Informatique, Logiciels et E/S. Dans chacune des cinq catégories, le rapport passe en revue une tendance, une méthodologie et une technologie influençant le test et la mesure. Voici la liste des sujets abordés :

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  • standardisation : développer une plate-forme de test commune réduit les coûts et accroît la réutilisation tout au long du cycle de vie du produit
  • test RF multivoies : tester des appareils sans fil de la prochaine génération nécessite une architecture de test parallèle étroitement synchronisée des signaux jusqu’au logiciel
  • informatique peer-to-peer : des configurations de tests de plus en plus complexes nécessitent des performances supérieures ainsi que des architectures point à point
  • conception et test de systèmes embarqués : les logiciels de test temps réel aident les ingénieurs à réutiliser des tests parallèlement à leurs modèles de systèmes embarqués tout au long du processus de développement
  • instruments reconfigurables : les instruments basés FPGA (Field-Programmable Gate Array) offrent un niveau encore inégalé de performances et de souplesse en facilitant la reconfigurabilité jusqu’au niveau du matériel.

Pour consulter le rapport sur les perspectives du test automatisé en 2010, les lecteurs peuvent se rendre sur www.ni.com/ato.

NATIONAL INSTRUMENTS
Publié le 21-04-2010