Journée Test et Mesure
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Témoignages
Voici quelques extraits des enquêtes réalisées dans le cadre de nos Journées Test & Mesure
[Exposant] Exposant Angers 2011 : Très bon salon !


[Exposant] Exposant Toulouse 2012 : Très bien sur tous les plans. Merci.


[Exposant] Exposant Paris 2012 : malgré la logistique un peu compliqué sur une ville comme Paris, le nombre de visiteurs mais surtout la qualité des contacts permettent de rentabiliser cette journée


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Bilan des Journées Test & Mesure »

Prochaine Journée Test et Mesure à Paris le 15 avril 2010

Communiqué de presse de SIMTEC RSS


Le 15 avril 2010 à l’espace Charenton – Paris 12ème, près de 60 entreprises représentant plus de 500 marques accueilleront leurs clients de la région pour présenter leurs dernières solutions dans le domaine de l’instrumentation de Mesure, du Test, de la Conversion d’énergie, du Contrôle et de la Régulation, des Capteurs et de la CEM…

Ces Journées s’adressent à tous ceux qui développent, produisent ou réparent du matériel à base d’électronique :
-   Aux Dirigeants qui désirent suivre les évolutions technologiques pour guider leur stratégie d’investissement ;
-   Aux Chefs de projets, aux responsables de laboratoires et de production qui recherchent les solutions de la productivité ;
-   Aux Ingénieurs et Techniciens qui souhaitent du matériel à la pointe de la technologie…




>>> Exposition non-stop de 9h00 à 17h00              
Déjeuner-buffet offert                                                           
* sur inscription

>>> Les conférences SIMTEC :

Conférences spéciales « CAPTEURS »

9h30 - 10h00 (1) « La mesure de Co2 dans votre environnement. Confort, Economies d’énergies, Sécurité »

10h00 - 10h30 (2) « Choix en débitmétrie dans le domaine industriel »

10h30 - 11h30 - Conférence du Comité Maintenance (3) - « Planète Maintenance en danger : Ensemble, augmentons l'émission de CDc * » * Cahier Des charges

11h30 - 12h30 - Conférence du Comité Réglementation – Normalisation (4) - « Directives, marquage CE et normes réglementaires applicables aux appareils de test et mesure »

Les conférence du Comité Test

14h00 - 14h30 (5) « Stratégie de test de cartes en faible et moyen volume »
14h30 – 15h00 (6) « Les interfaces de test »
15h00 – 15h30 (7) « Mon prochain testeur fonctionnel modulaire »
15h30 – 16h00 (8) « De la conception au test, les outils logiciels »

Pour plus de renseignement et inscription en ligne, le web :

http://www.simtec.org/Journees-Test-Mesure/Paris,22.html

SIMTEC
Publié le 29-03-2010

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