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Voici quelques extraits des enquêtes réalisées dans le cadre de nos Journées Test & Mesure
[Visiteur] Bonne présentation et organisation. Disponibilité et compétence des exposants


[Visiteur] Visiteur à Polytechnique 2010 : Contacts très intéressants qui permettent de connaître les technologies de dernière génération


[Auditeur] Très bonne façon de démystifier la métrologie (conférence maintenance)


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NI améliore les capacités de TestStand pour le test de semi-conducteurs

Communiqué de presse de NATIONAL INSTRUMENTS RSS

Avec le lancement du module TestStand Semiconductor, NI offre de nouvelles fonctionnalités pour TestStand dédiées aux équipements multisites et à la création de rapports, ainsi que des interfaces prober/manipulateur pour obtenir des systèmes de test plus intelligents.

 

Communiqué de presse – le 21  mars 2016 – NI, fournisseur de systèmes basés plate-forme permettant aux ingénieurs et aux scientifiques de relever les grands défis de notre temps, annonce aujourd'hui le lancement du module TestStand Semiconductor, qui comprend tous les outils logiciels nécessaires pour développer, déployer et maintenir rapidement des systèmes de test de semi-conducteurs optimisés.

 

Avec le module TestStand Semiconductor, les ingénieurs peuvent à présent programmer des systèmes de caractérisation calqués sur le modèle de programmation déployé en usine sur le Semiconductor Test System (STS), ce qui permet de réduire le temps nécessaire à la corrélation des mesures.

 

Reposant sur TestStand, le logiciel de gestion de tests standard de l'industrie utilisé par plus de 10 000 développeurs à travers le monde, le module TestStand Semiconductor donne également la possibilité aux utilisateurs de développer leurs propres systèmes empilables en baie pour le test en production de semi-conducteurs, en détournant la technologie PXI et TestStand de l'architecture "tête d'essai" conventionnelle du STS.

 

« NI continue à réduire les coûts de test de semi-conducteurs avec des logiciels ouverts et du matériel modulaire », déclare Ron Wolfe, Vice-Président Test de semi-conducteurs chez NI. « En 2014, nous avons introduit le STS sur le marché, qui a enrichi la plate-forme PXI ouverte avec des fonctionnalités spécifiques aux semi-conducteurs. Aujourd'hui, il est possible d'optimiser l'élaboration de tests en s'appuyant sur le module TestStand, spécialement conçu pour répondre aux besoins de tests de semi-conducteurs, de la caractérisation à la production. »

 

Le module TestStand Semiconductor offre des fonctionnalités spécifiques au test de semi-conducteurs qui engendrent une réduction significative des coûts de développement et une augmentation de la capacité de production. Ces fonctionnalités incluent :

  • Une programmation dynamique multisite pour réutiliser du code sur plusieurs sites de test, selon le besoin ;
  • Un éditeur de mappage de broches incluant la technologie PXI et des instruments tiers ;
  • Un processeur de résultats au format STDF pour l'enregistrement de résultats de tests paramétriques standard.

Le module TestStand Semiconductor Module enrichit encore la gamme NI dédiée au test de semi-conducteurs, qui comprend déjà le STS, des centaines d'instruments hautes performances au format PXI et un logiciel performant intégrant TestStand et LabVIEW. Les fabricants de semi-conducteurs s'appuient sur l'approche basée plate-forme de NI pour réduire les coûts et accroître les débits de tests RF et à signaux mixtes.

 

Pour en savoir plus, rendez-vous sur ni.com/teststand/semiconductor.

NATIONAL INSTRUMENTS
Publié le 21-03-2016


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