Journée Test et Mesure
Calendrier
Organisé par FM Promotion

Journées Test et Mesure »
Dossier d’inscription exposant, tarifs et conditions »

Témoignages
Voici quelques extraits des enquêtes réalisées dans le cadre de nos Journées Test & Mesure
[Auditeur] Très bonne interaction avec l'auditoire. Conférence agréable et intéressante


[Auditeur] Présentation très intéressante, avec des idées reçues refoulées


[Auditeur] Bonne explication sur la différence d'un constat de vérification et un certificat d'étalonnage (conférence maintenance)


Tous les témoignages »

Bilan des Journées Test & Mesure »

Paris le Jeudi 15 Avril 2010

Journée Test et Mesure du Jeudi 15 Avril 2010 à Paris

Les conférences - Les exposants - Le plan
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INSCRIPTION POUR VISITER LA JOURNEE CLOSE
>> Vous pourrez cependant vous inscrire directement sur place.

9h00 à 17h00

Exposition NON-STOP
Déjeuner-buffet offert sur inscription

LES CAPTEURS SONT A L'HONNEUR
>> organisation de conférences dédiées

Votre interlocutrice sur place
Mélanie SZWARTZFELD - SIMTEC

PARIS - Espace Charenton
327 rue de Charenton
entrée par le 3 rue Théodore Hamont - salle Apollo
75012 Paris
Tel: 01 43 95 06 10
Y aller
  • Par la route
    Périphérique extérieur - sortie Porte de Charenton

    Périphérique intérieur - sortie Porte de Bercy ou Porte Dorée

    Accès Métro : ligne 8
    station Porte de Charenton

    Accès Bus : PC1 / PC2
    station Porte de Charenton / Jardinier
Plan et itinéraire
Les conférences Conférence 9h30: La mesure de CO2 dans votre environnement. Confort, Economies d'énergie, Sécurité (1)

Conférence 10h00: Choix en débimétrie dans le domaine industriel (2)

Conférence 10h30: Conférence Maintenance : Planète métrologie en danger : ensemble augmentons l'émission de CDc (cahier des charges). Ou comment définir ses besoins en maintenance et métrologie (3)

Conférence 11h30: Conférence Rglt Normalisation : Directives, marquage CE et normes réglementaires applicables aux appareils de test et mesure (4)

Conférence 14h00: Après midi Test : Stratégie de test de cartes en faible et moyen volume (5)

Conférence 14h30: Les interfaces de test (6)

Conférence 15h00: Mon prochain testeur fonctionnel modulaire (7)

Conférence 15h30: Logiciels et outils de développement (8)

Les exposants Haut de page
Exposant
Exposant adhérent du SIMTEC
  • A+ METROLOGIE
  • ACCELONIX
  • ACQUISYS
  • AEROFLEX
  • AGILENT TECHNOLOGIES
  • ANRITSU SA
  • ANTYCIP CONVERGIE
  • AOIP
  • ASTER TECHNOLOGIES
  • ASTRO-MED
  • BRUEL & KJAER
  • CHAUVIN ARNOUX
  • COTELEC
  • DISTRIMESURE
  • EADS TEST & SERVICES - EX RACAL INSTRUMENTS
  • ELECTRO RENT EUROPE
  • EM TEST
  • EMC PARTNER FRANCE
  • ENGINEERING MESURE
  • EQUIPEMENTS SCIENTIFIQUES
  • HAMEG
  • IDEAL INDUSTRIES NETWORKS DIVISION
  • JDSU
  • JOHNE & REILHOFER
  • LASER 2000
  • LECROY
  • LIVINGSTON SERVICES SAS
  • LMS FRANCE
  • MEGGITT SENSING SYSTEMS
  • NATIONAL INSTRUMENTS
  • OPTEL - THEVON
  • OROS
  • PM INSTRUMENTATION
  • PUISSANCE +
  • ROHDE & SCHWARZ FRANCE
  • SEFELEC
  • SIEPEL / HEMERA / PRANA
  • SIREN
  • SOFIMAE
  • TDK-LAMBDA FRANCE SAS
  • TECHNICOME.COM
  • TEMENTO SYSTEMS
  • TH INDUSTRIE
  • TRESCAL
  • WAVETEL

  • Le plan Haut de page
    Agrandir la carte (itinéraire)
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